| | | | |
| | | | | |
 Институт Электрофизики / ЦКП   Карта сайта     Language По-русски По-английски

О ЦКП

Аналитическое оборудование

Измерительное оборудование

Технологическое оборудование

Оборудование для пробоподготовки

Документы ЦКП

Аналитическое оборудование

Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000
New View 5000

 

Производитель: Zygo Corp., США

Глубина измерения рельефа поверхности (шероховатость): до 100 мкм с разрешением 0.1 нм по вертикали и 0.64 мкм (50Х) по горизонтали в зависимости от объектива.

Результаты в виде:

  • изображение плоской поверхности с цветным распределением микро-неровностей по высоте;

  • объемное изображение тестируемой поверхности с цветным распределением микронеровностей по высоте и размерами поля обзора в зависимости от объектива;

  • профиль рельефа в плоскости сечения;

  • черно-белое изображение тестируемой поверхности.





 

Дизайн и программирование N-Studio
© 2003-2018 Институт Электрофизики
беременность, мода, красота, здоровье, диеты, женский журнал, здоровье детей, здоровье ребенка, красота и здоровье, жизнь и здоровье, секреты красоты, воспитание ребенка православное искусство, христианские стихи, книги скачать, православные знакомства, плохие мысли, психологи рождение ребенка,пол ребенка,воспитание ребенка,ребенок дошкольного возраста, дети дошкольного возраста,грудной ребенок,обучение ребенка,родить ребенка,загадки для детей,здоровье ребенка,зачатие ребенка,второй ребенок,определение пола ребенка,будущий ребенок медицина, клиники и больницы, болезни, врач, лечение, доктор, наркология, спид, вич, алкоголизм рождение ребенка,пол ребенка,воспитание ребенка,ребенок дошкольного возраста, дети дошкольного возраста,грудной ребенок,обучение ребенка,родить ребенка,загадки для детей,здоровье ребенка,зачатие ребенка,второй ребенок,определение пола ребенка,будущий ребенок