Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000
Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000 |
Производитель: Zygo Corp., США
Глубина измерения рельефа поверхности (шероховатость): до 100 мкм с разрешением 0.1 нм по вертикали и 0.64 мкм (50Х) по горизонтали в зависимости от объектива.
Результаты в виде:
- изображение плоской поверхности с цветным распределением микро-неровностей по высоте;
- объемное изображение тестируемой поверхности с цветным распределением микронеровностей по высоте и размерами поля обзора в зависимости от объектива;
- профиль рельефа в плоскости сечения;
- черно-белое изображение тестируемой поверхности.
|
|
|
|