Выборы директора 2020
Конкурс на замещение должностей НР
Аттестация сотрудников
Конференции и выставки
Профсоюзная организация
Малая академия
Основные направления исследований
Структура института
Ученый совет
Ведущие сотрудники ИЭФ
Нормативные документы
Реквизиты
Лаборатория Квантовой Электроники
Группа Низкотемпературной Плазмы
Лаборатория Физической Электроники
Лаборатория Прикладной Электродинамики
Лаборатория Пучков Частиц
Лаборатория Пучковых Воздействий
Лаборатория Импульсной Техники
Группа Физики Диэлектриков
Лаборатория Импульсных Процессов
Лаборатория Теоретической Физики
Лаборатория Электронных Ускорителей
Лаборатория Импульсных Источников Излучения
Лаборатория Нелинейной Оптики
Лаборатория Нелинейной Динамики
Лаборатория Прикладных Электрофизических Исследований
Лаборатория Комплексных ЭлектроФизических Исследований
Группа Электрофизических Технологий
Сильноточные генераторы, электронные ускорители
Применения электронных и ионных пучков
Мощная импульсная техника в технологии наноматериалов
Новые лазеры и их применение
О ЦКП
Аналитическое оборудование
Измерительное оборудование
Технологическое оборудование
Оборудование для пробоподготовки
Документы ЦКП
Новости библиотеки
Электронные ресурсы библиотеки ИЭФ
Список журналов, выписанных ИЭФ на текущий год
Новые поступления
Издательства
Журналы
Другие библиотеки
Научным сотрудникам и аспирантам
Специальности и реквизиты
Нормативная база
Документы
Список аспирантов
Поступление
Новости
Конкурсы
Ссылки
Устав
О нас
Ознакомление с диссертациями
Специальности
Состав
Документы соискателей
Объявления о защите
Контактная информация
Историческая справка
Нам 20 лет
Нам 25 лет
Награды
Визиты
Информация
|
Новости института
|
Об институте
|
Научные подразделения
|
Разработки
|
ЦКП
Библиотека
|
Аспирантура
|
Молодые ученые
|
Кафедра электрофизики
|
Диссертационный совет
|
Закупки
|
История
Институт Электрофизики
/
ЦКП
Карта сайта
Language
О ЦКП
Аналитическое оборудование
Измерительное оборудование
Технологическое оборудование
Оборудование для пробоподготовки
Документы ЦКП
Аналитическое оборудование
1.
Спектрофотометр двулучевой сканирующий UV-1700
2.
Хромато-масс-спектрометрический комплекс Varian Saturn 2100T
3.
Анализатор удельной поверхности TriStar 3000
4.
Прибор синхронного ТГ-ДТА/ДСК анализа Demo-STA 409 PC/4/H
5.
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER GADDS
6.
Микроскоп оптический ST-VS-520 (EC)
7.
Растровый электронный микроскоп LEO 982
8.
Атомно-силовой микроскоп Solver 47p
9.
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM 2100
10.
Система 3–х мерно-отображающего анализатора New View 5000
Дизайн и программирование
N-Studio
© 2003-2024 Институт Электрофизики